[发明专利]一种提高具体器件模型参数提取精度的方法及系统有效
| 申请号： | 201410406561.1 | 申请日： | 2014-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN105373634B | 公开（公告）日： | 2018-07-03 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100029 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高具体器件模型参数提取精度的方法及系统，该方法包括：获取器件的特性测量数据；根据特性测量数据确定器件的工作电学范围；将工作电学范围划分为至少两个工作电学子范围；在每个工作电学子范围内分别提取器件模型参数，并写入不同的模型卡；建立每一类器件模型卡的对应关系表，器件模型卡包括工作电学子范围的下限和上限以及对应的器件模型卡名；输入器件的工作电学范围搜索合适器件模型卡名的程序函数；根据程序函数输出器件的每一个所述工作电学子范围对应的所述器件模型卡名。该方法通过缩小针对具体器件的模型参数提取范围，在较小的电学范围内提取参数，提高针对具体器件的模型参数提取精度，进而也提高了电路仿真精度。 | ||
| 搜索关键词： | 器件模型 电学 模型参数提取 器件模型参数 程序函数 特性测量 电路仿真 范围搜索 获取器件 模型参数 输出器件 输入器件 数据确定 提取参数 提取器件 关系表 模型卡 写入 | ||
【主权项】：
1.一种提高具体器件模型参数提取精度的方法，其特征在于，包括：S1：获取所述器件的特性测量数据；S2：根据所述特性测量数据确定所述器件的工作电学范围；S3：将所述工作电学范围划分为至少两个工作电学子范围；S4：在每个所述工作电学子范围内分别提取器件模型参数，并写入不同的模型卡；S5：建立每一类器件模型卡的对应关系表，所述器件模型卡包括所述工作电学子范围的下限和上限以及对应的器件模型卡名；S6：输入器件的工作电学范围搜索合适所述器件模型卡名的程序函数。
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