[发明专利]一种分析阻变存储器电流波动性的方法在审
| 申请号： | 201410411901.X | 申请日： | 2014-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN104200845A | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 卢年端;李泠;刘明;孙鹏霄;王明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种分析阻变存储器电流波动性的方法，该方法包括：制备各种阻变存储器；测量制备的各种阻变存储器的I-V曲线，并采用0.1V的读电压，从测得的I-V曲线中读出该电压下各种阻变存储器的电流值，进而确定各种阻变存储器的高阻态和低阻态；分别计算各种阻变存储器在高低阻态下导电细丝中的电流；分别计算各种阻变存储器中导电细丝的外加电场；分别计算不同阻态下各种阻变存储器载流子跃迁的激活能；分别比较低阻态或高阻态下各种阻变存储器载流子跃迁的激活能，分析各种阻变存储器的电流波动性。利用本发明，通过阻变存储器的激活能来分析电流波动性，简化了分析过程，提高了分析的精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分析 存储器 电流 波动性 方法 | ||
【主权项】：
一种分析阻变存储器电流波动性的方法，其特征在于，该方法包括：步骤1：制备各种阻变存储器；步骤2：测量制备的各种阻变存储器的I‑V曲线，并采用0.1V的读电压，从测得的I‑V曲线中读出该电压下各种阻变存储器的电流值，进而确定各种阻变存储器的高阻态和低阻态；步骤3：分别计算各种阻变存储器在高低阻态下导电细丝中的电流；步骤4：分别计算各种阻变存储器中导电细丝的外加电场；步骤5：分别计算不同阻态下各种阻变存储器载流子跃迁的激活能；步骤6：分别比较低阻态或高阻态下各种阻变存储器载流子跃迁的激活能，分析各种阻变存储器的电流波动性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所;，未经中国科学院微电子研究所;许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410411901.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：核电站DCS功能验证方法、装置及系统
- 下一篇：一种可提醒拔取的U盘
