[发明专利]离子迁移谱迁移轴校正方法和仪器有效

专利信息
申请号: 201410412550.4 申请日: 2014-08-20
公开(公告)号: CN105353023B 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 安德雷亚斯·拜勒;迈克尔·布拉施克 申请(专利权)人: 布鲁克道尔顿公司
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;孙征
地址: 德国不*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及校正离子迁移谱的迁移轴以及测定离子迁移谱离子种类迁移特性的方法和仪器,特别是校正由漂移型离子迁移谱仪(IMS)采集的离子迁移谱的漂移时间轴。本发明提供了一种离子迁移谱仪,其特征为一种离子源,包含一个与样品源流体连通的第一电离区,一个与第一电离区在空间上分隔开来且与一个校准物池流体连通的第二电离区,以及用于控制样品离子从第一区域传送至第二电离区或进入离子源的第三区域的电学措施,其中第三区域与第一和第二电离区流体连通且距离迁移率分析器较第一和第二电离区更近。
搜索关键词: 离子 迁移 校正 方法 仪器
【主权项】:
1.一种具有一个离子源和一个迁移率分析器的离子迁移谱仪,其中离子源包含:‑一个与样品源流体连通的第一电离区,‑一个与第一电离区在空间上分离且与一个校准物池流体连通的第二电离区,以及‑用于控制离子从一个电离区传送至另一电离区的电学措施,其中,在电学措施的第一种状态下,样品离子从第一电离区传送至第二电离区基本上被电场阻止,在电学措施的第二种状态下,样品离子经由电场从第一电离区通过第二电离区朝迁移率分析器传送。
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