[发明专利]低品位菱镁矿选择性解离设备及方法无效
| 申请号： | 201410416055.0 | 申请日： | 2014-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN104190523A | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 崔俊峰;崔军;么革;齐国超;崔毅;崔薇薇;何占高;刘希洋 | 申请（专利权）人： | 营口东吉科技（集团）有限公司 |
| 主分类号： | B02C21/00 | 分类号： | B02C21/00 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 徐淑东;王宇杨 |
| 地址： | 115100 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供一种低品位菱镁矿选择性解离方法，包括以下步骤：(1)、将低品位菱镁矿粉碎至1-10mm；(2)、将步骤(1)中粉碎得到的菱镁矿置于磁选机中磁选，磁选采用的磁场强度为2-5T；(3)、将步骤(2)得到的菱镁矿研磨至200目以下的粉料质量含量大于60％，过200目筛，取筛下物；(4)、将步骤(3)得到的菱镁矿在600-900℃下煅烧40-180min得到轻烧粉；(5)、将步骤(4)得到的轻烧粉研磨至200目以下的粉料质量含量大于97％，过200目筛，筛下物即为选择得到的高品位菱镁矿精矿。本发明低品位菱镁矿选择性解离方法步骤科学、合理，解决了现有技术中氧化镁回收率低，易造成环境污染的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 品位 菱镁矿 选择性 解离 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种低品位菱镁矿选择性解离方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、将低品位菱镁矿粉碎至1‑10mm；(2)、将步骤(1)中粉碎得到的菱镁矿置于磁选机中磁选，所述磁选采用的磁场强度为2‑5T；(3)、将步骤(2)得到的菱镁矿研磨至200目以下的粉料质量含量大于60％，过200目筛，取筛下物；(4)、将步骤(3)得到的菱镁矿在600‑900℃下煅烧40‑180min得到轻烧粉；(5)、将步骤(4)得到的轻烧粉研磨至200目以下的粉料质量含量大于97％，过200目筛，筛下物即为选择得到的高品位菱镁矿。
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