[发明专利]角度检测装置在审
申请号: | 201410421450.8 | 申请日: | 2014-08-25 |
公开(公告)号: | CN104422385A | 公开(公告)日: | 2015-03-18 |
发明(设计)人: | 中村德男 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯电气株式会社 |
主分类号: | G01B7/30 | 分类号: | G01B7/30 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘建 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种能够迅速获取与旋转磁场的旋转角度对应的近似于一次函数的角度检测输出的角度检测装置。来自第一磁检测部(11)与第二磁检测部(12)的输出向作为差动放大器的第一至第四输出电路(21、22、23、24)供给,由此能够获取相互正负翻转了的近似于正弦波的检测输出(S1、S2)和相互正负翻转了的近似于余弦波的检测输出(S3、S4)。这些检测输出(S1~S4)供给于开关电路(31),基于检测输出(S1~S4)而获取以90度为周期的部分检测输出。在偏压施加电路(33)中对各个部分检测输出施加偏置电压,部分检测输出被设置为连续输出而获取近似于一次函数的角度检测输出。 | ||
搜索关键词: | 角度 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种角度检测装置,其特征在于,在赋予旋转磁场的检测区域设置有第一磁检测部和第二磁检测部,所述第一磁检测部获取与作为旋转磁场的旋转角度的函数的正弦波相近似的检测输出,所述第二磁检测部获取与余弦波相近似的检测输出,在所述角度检测装置中设置有开关电路和偏压施加电路,所述开关电路根据从所述第一磁检测部与所述第二磁检测部获取的模拟的检测输出而提取近似于一次函数的部分检测输出,所述偏压施加电路对任一个所述部分检测输出供给偏压电力使多个所述部分检测输出连续而作为角度检测输出。
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