[发明专利]快速制备3C-SiC外延膜方法在审
申请号: | 201410423183.8 | 申请日: | 2014-08-26 |
公开(公告)号: | CN104152986A | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
发明(设计)人: | 涂溶;孙清云;章嵩;张联盟 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | C30B25/10 | 分类号: | C30B25/10;C30B29/02;C30B29/36 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 王守仁 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种快速制备3C-SiC外延膜方法,其特征是将激光引入到传统CVD方法制备碳化硅外延膜即SiC薄膜,通过控制激光的输出功率,修饰基板表面形成纳米级微台阶,为薄膜形成初期提供大量成核点;同时激光也为薄膜的生长提供有效的光子活化和加热方式,使SiC薄膜的生长速度大幅度提高;通过控制激光光斑大小得到1-4英寸的SiC薄膜制品。本发明由于利用激光的光、热效应促使前驱体反应,使前驱体利用率和反应速率大幅度提高,在制备大尺寸3C-SiC薄膜的同时又保证了薄膜的均匀性。 | ||
搜索关键词: | 快速 制备 sic 外延 方法 | ||
【主权项】:
一种快速制备3C‑SiC外延膜方法,其特征是将激光引入到传统CVD方法制备碳化硅外延膜即SiC薄膜,通过控制激光的输出功率,修饰基板表面形成纳米级微台阶,为薄膜形成初期提供大量成核点;同时激光也为薄膜的生长提供有效的光子活化和加热方式,使SiC薄膜的生长速度大幅度提高;通过控制激光光斑大小得到1‑4英寸的SiC薄膜制品。
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