[发明专利]样本分析装置及样本分析方法在审
| 申请号： | 201410426493.5 | 申请日： | 2014-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN104422782A | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 有吉俊辅 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/02 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 杨永波 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了一种样本分析装置，包括：测定部件，该测定部件包含能够收纳数种试剂的试剂库，组合使用所述试剂库收纳的数种试剂来测定样本；存储部件，与制作标准曲线时使用的试剂组相对应地存储标准曲线；以及控制部件；当未存储有与样本测定中使用的试剂组相对应的标准曲线时，所述控制部件使所述存储部件存储表示所述样本的测定中使用的试剂组已用于测定的信息；制作标准曲线时，所述控制部件自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组。本发明还提供了一种使用样本分析装置的样本分析方法。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种样本分析装置，包括：测定部件，该测定部件包含能够收纳数种试剂的试剂库，组合使用所述试剂库收纳的数种试剂来测定样本；存储部件，与制作标准曲线时使用的试剂组相对应地存储标准曲线；以及控制部件；当未存储有与样本测定中使用的试剂组相对应的标准曲线时，所述控制部件使所述存储部件存储表示所述样本的测定中使用的试剂组已用于测定的信息；制作标准曲线时，所述控制部件自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组。
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