[发明专利]一种反射转换横波共检波点叠加剖面的剩余静校正方法有效

专利信息
申请号: 201410431338.2 申请日: 2014-08-28
公开(公告)号: CN104155694A 公开(公告)日: 2014-11-19
发明(设计)人: 熊晶璇;何光明;陶正喜;刘鸿;巫骏;朱晨;陈爱萍;罗红明 申请(专利权)人: 中国石油集团川庆钻探工程有限公司地球物理勘探公司
主分类号: G01V1/36 分类号: G01V1/36
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 邢伟
地址: 610213 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种反射转换横波共检波点叠加剖面的剩余静校正方法。所述方法包括:自动追踪得到PP波层位线;根据给定的速度比值乘以PP波层位线得到PS波的比拟层位线,自动追踪得到第一PS波层位线并将其和PS波的比拟层位线之差作为PS波的初次剩余静校正量,并对PS波共检波点叠加剖面进行初次剩余静校正;在初次剩余静校正后的临时剖面上利用互相关算法得到第二PS波层位线,并将其与第一PS波层位线之差作为PS波的第二次剩余静校正量;将初次剩余静校正量和第二次剩余静校正量进行叠加得到最终剩余静校正量,并对PS波共检波点叠加剖面进行第二次剩余静校正。本发明能够在地表起伏较大或低、降速带复杂的地区,高效精确地提取转换波的剩余静校正量。
搜索关键词: 一种 反射 转换 横波共 检波 叠加 剖面 剩余 校正 方法
【主权项】:
一种反射转换横波共检波点叠加剖面的剩余静校正方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:在反射纵波共检波点叠加剖面上选择满足预定条件的层位线,并在所述层位线上拾取多个种子点且所述种子点位于层位线走向发生改变之处,连接所述多个种子点生成一条连线,将所述连线沿着反射纵波共检波点叠加剖面表示时间的纵轴上下移动预定时间后构成第一时窗,在第一时窗内进行反射纵波层位的自动追踪,得到反射纵波层位线;根据给定的反射转换横波层位与反射纵波层位的速度比值将所述反射纵波层位线投影到反射转换横波共检波点叠加剖面上得到反射转换横波的比拟层位线,将所述反射转换横波的比拟层位线沿着反射转换横波共检波点叠加剖面表示时间的纵轴上下移动预定时间后构成第二时窗,在所述第二时窗内进行反射转换横波层位的自动追踪,得到第一反射转换横波层位线;将所述第一反射转换横波层位线和所述反射转换横波的比拟层位线之间的时间差确定为反射转换横波的初次剩余静校正量;利用所述反射转换横波的初次剩余静校正量对反射转换横波共检波点叠加剖面进行初次剩余静校正,得到初次剩余静校正后的临时剖面;在所述初次剩余静校正后的临时剖面上,将所述第一反射转换横波层位线沿着所述初次剩余静校正后的临时剖面表示时间的纵轴上下移动预定时间后构成第三时窗,然后在所述第三时窗内进行反射转换横波层位的自动追踪,得到第二反射转换横波层位线;将所述第二反射转换横波层位线和所述第一反射转换横波层位线之间的时间差确定为反射转换横波的第二次剩余静校正量;将初次剩余静校正量和第二次剩余静校正量进行叠加,得到反射转换横波共检波点叠加剖面的最终剩余静校正量;利用所述反射转换横波共检波点叠加剖面的最终剩余静校正量对反射转换横波共检波点叠加剖面进行第二次剩余静校正。
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