[发明专利]一种测量碳纳米管手性的方法及装置有效
| 申请号： | 201410434471.3 | 申请日： | 2014-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN105403538B | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 武文贇;岳菁颖;林晓阳;赵清宇;姜开利;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/49 | 分类号： | G01N21/49 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种原位测量碳纳米管手性的方法，包括以下步骤：S1提供待测碳纳米管；S2提供一棱镜，所述棱镜具有一棱镜第一表面与一棱镜第二表面，两个表面之间夹角小于90°，所述碳纳米管设置于棱镜第二表面；S3一束具有连续光谱的白色入射光由棱镜第一表面入射后射向所述碳纳米管，所述碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射；S4利用光学显微镜观测该碳纳米管，所述光学显微镜所配备的物镜为油镜或水镜中的一种，观测时该碳纳米管与所述物镜通过一耦合液耦合。S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱，根据该共振瑞利散射光谱信息获得待测碳纳米管的手性指数。本发明还涉及一种利用该方法观测碳纳米管手性的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 纳米 手性 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量碳纳米管手性的方法，包括以下步骤：S1提供待测碳纳米管；S2提供一棱镜，所述棱镜具有一棱镜第一表面与一棱镜第二表面，两个表面之间夹角小于90°，所述碳纳米管设置于所述棱镜第二表面；S3一束具有连续光谱的白色入射光由所述棱镜第一表面入射后射向所述碳纳米管，所述入射光的入射方向与所述棱镜第一表面垂直，所述碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射；S4利用光学显微镜观测该碳纳米管，所述光学显微镜所配备的物镜为油镜或水镜之中的一种，观测时该碳纳米管与所述物镜通过一耦合液耦合，所述碳纳米管浸没于所述耦合液中，所述物镜浸入所述耦合液中；S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱，根据该共振瑞利散射光谱信息获得待测碳纳米管的手性指数。
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