[发明专利]一种观测一维纳米材料的方法及装置有效
| 申请号： | 201410434514.8 | 申请日： | 2014-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN105445227B | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 武文贇;岳菁颖;林晓阳;赵清宇;姜开利;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01N21/63 |
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| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种原位观测一维纳米材料的方法，包括以下步骤：S1、提供一待测一维纳米材料；S2、将所述一维纳米材料浸没于耦合液中；S3、提供一束具有连续光谱的白色入射光，所述一维纳米材料在该入射光的照射下发生共振瑞利散射；S4、利用物镜为水镜的光学显微镜观测该一维纳米材料，观测时该水镜浸没于所述耦合液中。本发明还涉及一种利用该方法观测一维纳米材料的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 观测 纳米 材料 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种观测一维纳米材料的方法，包括以下步骤：S1提供一待测一维纳米材料；S2将所述一维纳米材料完全固定于一基体表面，并将该基体与所述一维纳米材料一同浸没于耦合液中，所述耦合液置于一水槽中，所述水槽包括一底面以及至少一透明侧面，所述至少一透明侧面与所述底面的夹角α取值范围为45°≤α<90°；S3提供一束具有连续光谱的白色入射光，该入射光通过所述至少一透明侧面射向所述一维纳米材料，所述一维纳米材料在该入射光的照射下发生共振瑞利散射；S4利用物镜为水镜的光学显微镜观测该一维纳米材料，观测时该水镜浸没于所述耦合液中。
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