[发明专利]测试治具和测试方法有效
| 申请号： | 201410441479.2 | 申请日： | 2014-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN104215644A | 公开（公告）日： | 2014-12-17 |
| 发明（设计）人： | 高国华;郭飞 | 申请（专利权）人： | 南通富士通微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 孟阿妮;郭栋梁 |
| 地址： | 226006 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试治具和测试方法，该测试治具包括：环形基座，包含第一环形台和第二环形台，第二环形台位于第一环形台的内侧，且第二环形台的台面低于第一环形台的台面，第二环形台的台面上设有第一对准标识；环形主体，包含第三环形台和至少三个卡角结构，卡角结构与第三环形台之间通过螺栓固定接触或分离，卡角结构的卡角为90°，第三环形台上设置有第二对准标识，第一对准标识与第二对准标识的位置对准时，第一环形台与所述第三环形台的台面相对位置重合。该方案有用以测试圆片封装芯片背面打印图形是否偏移。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种测试治具，其特征在于，包括：环形基座，包含第一环形台和第二环形台，所述第二环形台位于所述第一环形台的内侧，且所述第二环形台的台面低于所述第一环形台的台面，所述第二环形台的台面上设有第一对准标识；环形主体，包含第三环形台和至少三个卡角结构，所述卡角结构与所述第三环形台之间通过螺栓固定接触或分离，所述卡角结构的卡角为90°，所述第三环形台上设置有第二对准标识，所述第一对准标识与所述第二对准标识的位置对准时，所述第一环形台与所述第三环形台的台面相对位置重合。
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