[发明专利]一种中央处理器性能测试方法及系统有效
| 申请号： | 201410441952.7 | 申请日： | 2014-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN104199771B | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | 廖裕民 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙)35219 | 代理人： | 林祥翔,吕元辉 |
| 地址： | 350003 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种中央处理器性能测试方法及系统，其中，该方法包括制定测试计划，所述测试计划包括配置所述中央处理器配置信息以及确定所述配置信息中所需测试的性能参数；写入所述中央处理器配置信息，将所需测试的性能参数赋值为第一参数值；根据所述中央处理器配置信息形成相应的中央处理器参数化电路，以及确定DDR类型和测试软件从而对所述所需测试的性能参数进行测试；产生并保存性能测试数据；确定循环测试结束后，输出性能测试结果。利用本发明，实现在电路设计阶段就可以针对性能运行软件仿真，并得到具体而真实的性能数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 中央处理器 性能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种中央处理器性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：(a)制定测试计划，所述测试计划包括配置所述中央处理器配置信息以及确定所述配置信息中所需测试的性能参数；(b)写入所述中央处理器配置信息，将所需测试的性能参数赋值为第一参数值；(c)根据所述中央处理器配置信息形成相应的中央处理器参数化电路，以及确定DDR类型和测试软件从而对所述已经赋值为第一参数值的所需测试的性能参数进行测试；(d)产生并保存性能测试数据；(f)改变所述所需测试的性能参数的赋值为第N参数值，保持所述中央处理器配置信息的其他性能参数不变，循环执行所述步骤(c)、(d)直至所述所需测试的性能参数的全部赋值完成测试；(e)确定循环测试结束后，输出性能测试结果。
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