[发明专利]光谱仪在审
申请号: | 201410441990.2 | 申请日: | 2014-09-02 |
公开(公告)号: | CN105277281A | 公开(公告)日: | 2016-01-27 |
发明(设计)人: | 安振基;林清隆;沈峰旗 | 申请(专利权)人: | 群燿科技股份有限公司;照能科技股份有限公司 |
主分类号: | G01J3/457 | 分类号: | G01J3/457 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 中国台湾苗栗县竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种光谱仪,用以分析待测光。光谱仪包括分光单元、光检测器及处理单元。分光单元将待测光的不同的波长成分分解。光检测器检测被分解的待测光,以获得一光谱。处理单元电性连接至光检测器,且用以根据来自光检测器的光谱计算出光谱于特定波段中的光辐射量相对于光谱的总光辐射功率密度、总光辐射功率强度及总光辐射能量的至少其中之一的比例,其中所述特定波段是落在从红外光至紫外光的可见光与不可见光的波段内。 | ||
搜索关键词: | 光谱仪 | ||
【主权项】:
一种光谱仪,用以分析待测光,其特征在于,包括:分光单元,将所述待测光的不同的波长成分分解;光检测器,检测被分解的所述待测光,以获得光谱;以及处理单元,电性连接至所述光检测器,且用以根据来自所述光检测器的所述光谱计算出所述光谱于特定波段中的光辐射量相对于所述光谱的总光辐射功率密度、总光辐射功率强度及总光辐射能量的至少其中之一的比例,其中所述特定波段是落在从红外光至紫外光的可见光与不可见光的波段内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于群燿科技股份有限公司;照能科技股份有限公司,未经群燿科技股份有限公司;照能科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410441990.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种温度检测方法和系统
- 下一篇:电子设备