[发明专利]一种用于中子Soller准直器发散角测试方法有效
申请号: | 201410443111.X | 申请日: | 2014-09-02 |
公开(公告)号: | CN104216000B | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 陈东风;刘蕴韬;高建波;孙凯;王洪立;韩松柏;刘新智;李玉庆;郝立杰;李峻宏;肖红文;李眉娟;李天富;王子军;吴立齐 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102413 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于中子Soller准直器发散角测试方法,包括如下步骤选取高斯函数用来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数,将中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式;然后实验测量得到中子通过待测中子Soller准直器、参考中子Soller准直器后中子强度随摇动角度变化的摇动曲线实验数据;随后利用摇动曲线表达式对摇动曲线实验数据进行数据拟合得到摇动曲线标准误差;计算得到待测中子Soller准直器的发散角。本发明无需限制中子源的发散角范围,测试过程中参考准直器发散角可以任选,相对于6个待定参数的5次多项式,并且可以在一定误差范围内方便估算待测准直器发散角。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 中子 soller 准直器 发散 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种用于中子Soller准直器发散角测试方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1、采用高斯型函数来描述中子源角发散分布函数和中子透射准直器角发散响应函数,然后将所述中子源角发散分布函数和所述中子透射准直器角发散响应函数进行数学积分形成摇动曲线表达式通式;步骤2、实验测量获取摇动曲线实验数据,并根据摇动曲线表达式通式对获得的摇动曲线实验数据进行拟合,获得摇动曲线标准误差;步骤3、利用所述摇动曲线标准误差、中子源标准误差以及参考中子Soller准直器发散角标准误差,计算得到待测中子Soller准直器标准误差;步骤4、利用所述待测中子Soller准直器标准误差,计算得到待测中子Soller准直器的发散角;所述步骤1中,所述中子源角发散分布函数其中x为发散角,I0为发散角x=0时IS(x)的值;所述中子透射准直器角发散响应函数其中x为发散角,T为中子Soller准直器的透射率;所述摇动曲线表达式通式为:Is+1+2(x)=∫Is(γ,σs)T1(x-γ,σ1)T2(γ,σ2)dγ=Aexp(-x22σs+1+22);]]>其中,A为发散角x=0时,测量得到的中子束流强度;其中,T1(x‑γ,σ1)为待测中子透射准直器角发散响应函数,具体为:T10为待测中子Soller准直器的透射率;其中,T2(γ,σ2)为参考中子透射准直器角发散响应函数,具体为:T20为参考中子Soller准直器的透射率;其中,Is(γ,σs)为所述中子源角发散分布函数,具体为:其中,σs+1+2为摇动曲线标准误差;所述步骤3中,摇动曲线标准误差表达式为:σ1为所述待测中子Soller准直器的标准误差;σs为所述中子源发散角标准误差;σ2为所述参考中子Soller准直器的标准误差;利用表达式和已知的中子源标准误差σs、参考中子Soller准直器发散角标准误差σ2,计算得到待测中子Soller准直器标准误差σ1。
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