[发明专利]TFT背板结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201410444171.3 申请日: 2014-09-02
公开(公告)号: CN104241298A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 吕晓文;曾志远;苏智昱;张合静 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种TFT背板结构及其制作方法。该TFT背板结构具有开关TFT(T1)与驱动TFT(T2),所述开关TFT(T1)由第一源\漏极(61)、第一栅极(21)及夹在二者之间的第一蚀刻阻挡层(51)、第一氧化物半导体层(41)与第一栅极绝缘层(31)构成,所述驱动TFT(T2)由第二源\漏极(62)、第二栅极(22)及夹在二者之间的第二蚀刻阻挡层(52)、第二氧化物半导体层(42)与第二栅极绝缘层(32)构成驱动TFT(T2),所述第一栅极绝缘层(21)与第二栅极绝缘层(22)的材料不同或厚度不同,从而所述开关TFT(T1)与所述驱动TFT(T2)的电特性不同。
搜索关键词: tft 背板 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种TFT背板结构,其特征在于,包括一基板(1)、位于该基板(1)上的相互间隔的第一栅极(21)与第二栅极(22)、位于所述基板(1)与第一栅极(21)上的第一栅极绝缘层(31)、位于所述基板(1)与第二栅极(22)上的第二栅极绝缘层(32)、于所述第一栅极(21)正上方位于所述第一栅极绝缘层(31)上的第一氧化物半导体层(41)、于所述第二栅极(22)正上方位于所述第二栅极绝缘层(32)上的第二氧化物半导体层(42)、位于所述第一氧化物半导体层(41)上的第一蚀刻阻挡层(51)、位于所述第二氧化物半导体层(42)上的第二蚀刻阻挡层(52)、位于所述第一栅极绝缘层(31)与第一蚀刻阻挡层(51)上的第一源\漏极(61)、位于所述第二栅极绝缘层(32)与第二蚀刻阻挡层(52)上的第二源\漏极(62)、位于所述第一、第二源\漏极(61、62)上的保护层(7)、及位于所述保护层(7)上的像素电极(8);所述第一源\漏极(61)搭接第一氧化物半导体层(41)与第二栅极(22),所述第二源\漏极(62)搭接第二氧化物半导体层(42),所述像素电极(8)搭接所述第二源\漏极(62);所述第一源\漏极(61)、第一栅极(21)及夹在二者之间的第一蚀刻阻挡层(51)、第一氧化物半导体层(41)与第一栅极绝缘层(31)构成开关TFT(T1),所述第二源\漏极(62)、第二栅极(22)及夹在二者之间的第二蚀刻阻挡层(52)、第二氧化物半导体层(42)与第二栅极绝缘层(32)构成驱动TFT(T2),所述第一栅极绝缘层(21)与第二栅极绝缘层(22)构造不同,从而所述开关TFT(T1)与所述驱动TFT(T2)的电特性不同。
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