[发明专利]氧化物半导体TFT基板的制作方法及结构有效
申请号: | 201410445154.1 | 申请日: | 2014-09-02 |
公开(公告)号: | CN104241299B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 李文辉 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L29/786;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种氧化物半导体TFT基板的制作方法及结构,通过采用氧化物导体层来定义氧化物半导体TFT基板的沟道,由于该氧化物导体层较薄,与现有技术相比,所述沟道的宽度可以制作得较小,并且沟道宽度可以得到准确控制,因此降低了氧化物半导体TFT基板的制程难度,提升了氧化物半导体TFT基板的性能,提高生产良率。本发明制得的氧化物半导体TFT基板结构中,由于氧化物导体层与氧化物半导体层结构组成类似,因此可形成良好的欧姆接触;氧化物导体层不会给氧化物半导体层造成金属离子污染;由于氧化物导体层是透明的,因此可提高开口率。 | ||
搜索关键词: | 氧化物 半导体 tft 制作方法 结构 | ||
【主权项】:
一种氧化物半导体TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(1),在该基板(1)上沉积并图案化氧化物导体层,得到具有沟道(51)的氧化物导体层(5);步骤2、在所述氧化物导体层(5)上沉积并图案化氧化物半导体层,得到氧化物半导体层(6);步骤3、在所述氧化物半导体层(6)上沉积第一绝缘层(3);步骤4、在所述第一绝缘层(3)上沉积并图案化第一金属层,形成栅极(2);步骤5、在所述栅极(2)上沉积第二绝缘层(31);步骤6、对所述第一绝缘层(3)与第二绝缘层(31)同时进行图案化处理,得到过孔(32)、(33);步骤7、在所述第二绝缘层(31)上形成源极(52)与漏极(4);所述氧化物导体层(5)为ITO或IZO,所述氧化物导体层(5)的厚度小于漏极(4)的厚度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410445154.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的