[发明专利]改良黑电平校准的图像传感器在审

专利信息
申请号: 201410447129.7 申请日: 2014-09-03
公开(公告)号: CN104184969A 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 郭同辉;旷章曲 申请(专利权)人: 北京思比科微电子技术股份有限公司
主分类号: H04N5/374 分类号: H04N5/374;H04N5/3745;H01L27/146
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;赵镇勇
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种改良黑电平校准的图像传感器,包含感光像素阵列和遮光像素阵列,遮光像素阵列中包含抽取半导体基体中溢出电荷的像素和黑电平校准像素,抽取半导体基体中溢出电荷的像素位于感光像素阵列与黑电平校准像素之间,将感光像素阵列与黑电平校准像素隔离开。黑电平校准像素所采集的是真实的无光信号,能够避免黑电平像素受到半导体基体中溢出的电荷的干扰,进而提升了图像传感器黑电平校准的准确性,提高图像传感器所采集到的图像质量。
搜索关键词: 改良 电平 校准 图像传感器
【主权项】:
一种改良黑电平校准的图像传感器,包含感光像素阵列和遮光像素阵列,其特征在于,所述遮光像素阵列中包含抽取半导体基体中溢出电荷的像素和黑电平校准像素,所述抽取半导体基体中溢出电荷的像素位于所述感光像素阵列与所述黑电平校准像素之间,将所述感光像素阵列与所述黑电平校准像素隔离开。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京思比科微电子技术股份有限公司;,未经北京思比科微电子技术股份有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410447129.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top