[发明专利]一种空间辐射性能测试方法在审
申请号: | 201410449114.4 | 申请日: | 2014-09-04 |
公开(公告)号: | CN105406922A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
发明(设计)人: | 林海立;张新华 | 申请(专利权)人: | 盛和联(苏州)电子科技有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种空间辐射性能测试方法,包括如下步骤,建立球面坐标系:将被测无线通信产品放置在微波暗室测试系统的旋转轴上,以被测产品为原点建立x,y,z轴所定义的球面坐标系;测试点选取:微波暗室测试系统的探头在包含z轴的竖直平面内按照均匀间隔的角度分布,水平旋转探头依次记录的位置即为测试点;测试:水平旋转测试装置,按照各测试点的角大小依次测试每个角所对应的不同角的测试点的辐射性能数据;数据处理:对所有的测试点记录的数据做极值分析。本发明通过球面坐标系建立、测试点选取、测试、数据处理的步骤,降低了测试成本,减少了空间测试点的数量,节省了测试时间,提高了测试的效率,为无线通信设备的研发进度提供有力保障。 | ||
搜索关键词: | 一种 空间 辐射 性能 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种空间辐射性能测试方法,其特征在于:包括如下步骤,(1)建立球面坐标系:将被测无线通信产品放置在微波暗室测试系统的旋转轴上,以被测产品为原点建立x,y,z轴所定义的球面坐标系;(2)测试点选取:微波暗室测试系统的探头在包含z轴的竖直平面内按照均匀间隔的角度分布,所述微波暗室测试系统的旋转轴与z轴重合,水平旋转探头依次记录的位置即为测试点;(3)测试:水平旋转测试装置,按照各测试点的角大小依次测试每个角所对应的不同角的测试点的辐射性能数据,θ角为测试点与所述z轴的夹角,φ角为所述x轴与测试点在x、y平面上的投影之间的夹角;(4)数据处理:对所有的测试点记录的数据做极值分析,在极大值附近,分别针对θ角与φ角进行线性插值,θ角与φ角的插值间隔分别缩减为原始间隔的四分之一,再对上述各个测试点的空间辐射数据进行加权平均得到整个空间的总测试结果。
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