[发明专利]一种TSV转接板及其制造工艺有效
申请号: | 201410450356.5 | 申请日: | 2014-09-04 |
公开(公告)号: | CN104201166B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 何洪文;孙鹏;曹立强 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 | 代理人: | 殷红梅,刘海 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种TSV转接板及其制造工艺,先在基板上进行植球工艺,形成凸点,然后将铜柱嵌入凸点中,形成铜柱凸点结构;利用塑封工艺将铜柱凸点结构进行塑封,利用湿法或干法工艺将铜柱上表面露出来,进行正面RDL层和第一微凸点的制造工艺;将基板材料去除,利用减薄工艺打磨基板背面,直到露处铜柱的下表面为止,做背面RDL层和第二微凸点,完成整个的TSV转接板工艺。该工艺避开了TSV刻蚀、绝缘层沉积、介质层沉积、种子层制备及电镀填充,极大地降低了转接板制造成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 tsv 转接 及其 制造 工艺 | ||
【主权项】:
一种TSV转接板的制造工艺,其特征是,包括以下步骤:(1)在基板(1)的正面植球,得到凸点(2);(2)将铜柱(3)的一端嵌入凸点(2)中,得到铜柱凸点结构;(3)采用塑封材料将铜柱凸点结构进行塑封,得到塑封层(4);(4)对塑封层(4)的正面进行减薄,直至露出铜柱(3)的上表面;(5)在塑封层(4)的正面制作正面RDL层(5),正面RDL层(5)的厚度为5~30μm;在正面RDL层(5)上进行植球回流,得到第一微凸点(6);(6)在塑封层(4)的正面进行灌胶,得到灌胶层(7),灌胶层(7)覆盖RDL层(5)和第一微凸点(6);(7)在灌胶层(7)的表面进行临时晶圆(10)的键合;(8)对基板(1)的背面进行减薄,将基板(1)和凸点(2)打磨掉,打磨至露出铜柱(3)的下表面;(9)在塑封层(4)的背面制作背面RDL层(8),背面RDL层(8)的厚度为5~30μm;在背面RDL层(8)上进行植球回流,得到第二微凸点(9);(10)去掉塑封层(4)正面的临时晶圆(10)及胶,完成所述转接板的制造。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华进半导体封装先导技术研发中心有限公司,未经华进半导体封装先导技术研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410450356.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。