[发明专利]验证部分良好的电压岛结构有效
| 申请号： | 201410452348.4 | 申请日： | 2014-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN104424379B | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | K·W·戈满;S·F·奥克兰德;M·R·奥埃莱特;S·J·尤里施 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人： | 酆迅,张宁 |
| 地址： | 美国纽*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了用于设计和验证包括冗余逻辑块的集成电路的结构、方法和系统。集成电路包括选择逻辑以及可以由选择逻辑单独控制的可选的逻辑块。可选的逻辑块包括冗余逻辑块的相应实例以及在集成电路中选择性禁用冗余逻辑块的接口逻辑块的相应实例。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 部分 良好 电压 结构 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：选择逻辑；以及多个可选的逻辑块，由所述选择逻辑单独地可控制，其中，所述多个可选的逻辑块包括：冗余逻辑块的相应实例，以及接口逻辑块的相应实例，被配置用于将所述冗余逻辑块与所述集成电路的功能逻辑分隔开，以及选择性禁用在所述集成电路中的所述冗余逻辑块。
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