[发明专利]分析离子结构的方法在审
| 申请号： | 201410454208.0 | 申请日： | 2014-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN105424789A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 徐伟;贺木易;方向 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G06F19/00 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 阚梓瑄;路兆强 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分析离子结构的方法，包括以下步骤：囚禁、激发离子：向一离子质量分析器施加具有高阶成分的射频电场、辅助交流电场或施加一宽频激发电场使样品离子被激发到一运动幅度，但不超过离子质量分析器的囚禁能力，此时运动幅度记为初始运动幅度，此时刻记为第一时刻；向离子质量分析器持续通入载气，并使离子质量分析器中保持一定真空度，样品离子与载气发生碰撞，运动幅度逐渐减小，直到第二时刻，采集从第一时刻到第二时刻过程中样品离子产生的镜像电流的时域信号；信号处理：通过时频分析方法对时域信号进行分析，获得包含有相应尺寸的离子的运动频率与该离子与载气的碰撞截面积的对应关系的时变特征曲线，从而区别出不同尺寸的离子。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 离子 结构 方法 | ||
【主权项】：
一种分析离子结构的方法，包括以下步骤：囚禁、激发离子步骤：向一离子质量分析器施加一射频电场，使样品离子囚禁于所述离子质量分析器中，所加射频电场具有高阶成分；并向所述离子质量分析器施加一辅助交流电场或施加一宽频激发电场使样品离子被激发到一运动幅度，但不超过离子质量分析器的囚禁能力，此时运动幅度记为初始运动幅度(a0)，对应于该初始运动幅度(a0)的时刻记为第一时刻(t0)；信号采集步骤：向所述离子质量分析器持续通入载气，并使离子质量分析器中的真空度小于1.333Pa，样品离子与载气发生碰撞，运动幅度逐渐减小，直到第二时刻(tt)，采集从第一时刻(t0)到第二时刻(tt)过程中样品离子产生的镜像电流的时域信号；信号处理步骤：通过时频分析方法对所述时域信号进行分析，分别获得样品离子中各尺寸的离子的运动频率(f)随时间变化的时变特征曲线(C)，每条所述时变特征曲线(C)包含有相应尺寸的离子的运动频率(f)与该离子与载气的碰撞截面积的对应关系，以区别出不同尺寸的离子。
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