[发明专利]分光器所用的波长校准方法以及分光光度计有效

专利信息
申请号: 201410454212.7 申请日: 2014-09-05
公开(公告)号: CN104422516B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 湊浩之 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01J3/02 分类号: G01J3/02;G01J3/28
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种分光器所用的波长校准方法以及分光光度计。提供一种用于通过将来自发光强度包含预定周期的变化的标准光源的光照射到分光器的衍射光栅上并且测量该衍射光栅所反射的光的强度来进行具有衍射光栅的分光器的波长校准的方法。该方法包括以下步骤在与包括标准光源所生成的亮线光谱光的峰值波长的范围的各波长相对应的衍射光栅的各转动位置处,在该周期内至少两次测量来自衍射光栅的反射光的强度;基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值(201);以及将强度值(201)最大的波长确定为亮线光谱光的峰值波长。
搜索关键词: 分光 所用 波长 校准 方法 以及 光度计
【主权项】:
一种通过将来自发光强度包含预定周期的变化的标准光源的光照射到分光器的衍射光栅上、并且测量所述衍射光栅所反射的光的强度来进行波长校准的方法,所述方法包括以下步骤:a)在与包括所述标准光源所生成的亮线光谱光的峰值波长的范围的各波长相对应的所述衍射光栅的各转动位置处,在所述周期内至少两次测量来自所述衍射光栅的反射光的强度;b)基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值;以及c)将所述强度值最大的波长确定为所述亮线光谱光的峰值波长。
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