[发明专利]具有改善灵敏度的光学检测装置和方法在审
申请号: | 201410455095.6 | 申请日: | 2014-09-09 |
公开(公告)号: | CN105424618A | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 潘宁宁 | 申请(专利权)人: | 赛默飞世尔(上海)仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 姬利永 |
地址: | 201206 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开具有改善灵敏度的光学检测装置和方法。该光学检测装置包括:光源,用于发射检测光束;多个样品池,排列在检测光束的光路上;检测器,用于接收并检测透射通过多个样品池的检测光束。 | ||
搜索关键词: | 具有 改善 灵敏度 光学 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种光学检测装置,包括:光源,用于发射检测光束;多个样品池,所述多个样品池排列在所述检测光束的光路上;检测器,用于接收并检测透射通过所述多个样品池的检测光束。
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