[发明专利]辐射环境中电子元器件的抗辐射性能对比实验系统和方法在审
| 申请号： | 201410462151.9 | 申请日： | 2014-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN104251868A | 公开（公告）日： | 2014-12-31 |
| 发明（设计）人： | 罗均;颜春明;蒲华燕;刘恒利;张娟;瞿栋;马捷;吴斌;谢少荣 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在辐照环境中电子元器件的抗辐射性能对比实验系统和方法。本发明主要通过对比实验和每一支路单一变化量的思想实现，涉及对元件的实时监控和检测。系统主要包括测试和保护元件、内外连接线和外部监控三部分组成。本发明主要通过收集元件工作的回传参数进行结果对比分析，判断元器件的工作和损坏情况。这种方法可以有效地检测出元器件在辐射环境下的抗辐射性能，具有较强的操作性。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 环境 电子元器件 性能 对比 实验 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种核辐射环境中电子元器件的抗辐射性能对比实系统，包括实验测试系统，辅助实验系统和外部实时监测系统，其特征在于：实验测试系统包括工控机A（1）、CAN分析仪A（2）、传感器A，B,C（3,4,5）、电机A（6）、驱动器B（7）；辅助实验系统包括工控机B（8）、STM32（9）和其外接模块（10）、驱动器A（11）和电机B（12）；外部实时监测系统包括交换机（17）、CAN分析仪B（18）和检测PC（19）；所述工控机A（1）、CAN分析仪A（2）通过工控机B（8）、传感器A，B,C（3,4,5）通过STM32（9）及其外接模块（10）连接到交换机（17）上，交换机（17）通过网线连接到监控PC（19）上；电机A，B（6,12）分别通过驱动器A，B（11,7）连接到CAN分析仪B（18）上，CAN分析仪B（18）通过USB线连接到监控PC（19）上；所述的实验测试系统安装在实验板（13）上，辅助实验系统安装在铅盒（14）内；实验板（13）和铅盒（14）放置在辐射环境（15）中；所述的外部实时监测系统放在外部环境（20）中。
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