[发明专利]一种MEMS器件热应力隔离结构无效

专利信息
申请号: 201410465729.6 申请日: 2014-09-15
公开(公告)号: CN104192790A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 王文婧;郭群英;黄斌;王鹏;陈博;陈璞;何凯旋 申请(专利权)人: 华东光电集成器件研究所
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人: 杨晋弘
地址: 233042 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种MEMS器件热应力隔离结构,a、隔热结构体(1)四角分别设有一个凸起的键合面(3),隔热结构体(1)中部形成贯通的空腔(2),空腔中设有纵横交错并且贯通的散热槽(1b);b、隔热结构体(1)四角的键合面(3)通过硅硅键合工艺与MEMS器件的衬底(4)连接,隔热结构体的空腔(2)与MEMS器件中的可动结构(6)对应配合。本发明的优点在于:该热隔离结构简单、易于加工,制作完成后直接与器件层键合即可,大大提高了封装产品的可靠性和器件性能。在封装中,与直接贴片到管壳底部相比,MEMS器件底面键合热隔离结构再贴到管壳底部封装热应力可大大减小。
搜索关键词: 一种 mems 器件 应力 隔离 结构
【主权项】:
一种MEMS器件热应力隔离结构,包括MEMS器件,其特征在于:a、设置一个与MEMS器件配合的隔热结构体(1),隔热结构体(1)四角分别设有一个凸起的键合面(3),隔热结构体(1)中部形成贯通的空腔(2),空腔中设有贯通的散热槽(1b);b、隔热结构体(1)四角的键合面(3)通过硅硅键合工艺与MEMS器件的衬底(4)连接,隔热结构体的空腔(2)与MEMS器件中的可动结构(6)对应配合。
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