[发明专利]一种基于稀疏表示的低分辨率触摸屏图像缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种基于稀疏表示的低分辨率触摸屏图像缺陷检测方法，包括下述步骤S1、从正常的触摸屏图像训练集合中提取图像特征构建正常样本对应的原子库D；S2、对冗余的且含有噪声特征的原子库D进行优化筛选并选出子集D′，作为训练样本的稀疏表示字典；S3、在缺陷检测时，提取待检测图像y的特征，通过l1范数极小化求出y在D′下线性表出的系数；S4、若待检测图像y是无缺陷的触摸屏图像的，其在D′下线性表出的系数应该是稀疏的，反之则不稀疏。本发明利用无缺陷的触摸屏图像建立了过完备基的冗余原子库，对原子库中的原子进行优选构建冗余字典，根据无缺陷触摸屏图像可以由字典稀疏的线性重构，而带缺陷的图像则无法利用字典稀疏的线性重构这一特点对触摸屏图像进行缺陷检测。

主权项

一种基于稀疏表示的低分辨率触摸屏图像缺陷检测方法，其特征在于，包括下述步骤：S1、从正常的触摸屏图像训练集合中提取图像特征构建正常样本对应的原子库D；S2、对冗余的且含有噪声特征的原子库D进行优化筛选，从中提炼出一个最优、具有最小维数的子集D′，作为训练样本的稀疏表示字典；S3、在缺陷检测时，使用与步骤S1同样的方法提取待检测图像y的特征，通过l1范数极小化求出y在D′下线性表出的系数；S4、若待检测图像y是无缺陷的触摸屏图像的，其在D′下线性表出的系数应该是稀疏的，反之则不稀疏；对于无缺陷的触摸屏图像而言，由于其可以有效的利用训练字典D′稀疏地线性表出，即可以利用D′中的基底以很小的代价重构；在利用OMP算法进行求解前，先将经典OMP算法中第一步的内积修改为向量相似度，即λt=argminj|<rt-1,dj>|||rt-1||2·||dj||2---(1)]]>D中所有列中与dj最相似的一定是它自身，从而必然可以得到稀疏表示系数x＝ej。