[发明专利]集成IC封装在审
申请号: | 201410468125.7 | 申请日: | 2014-09-15 |
公开(公告)号: | CN104681518A | 公开(公告)日: | 2015-06-03 |
发明(设计)人: | P·奥斯米茨 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/31 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 德国诺伊*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 集成电路(IC)封装包括具有第一组焊盘的封装核,第一组焊盘具有与产品系列中的芯片核兼容的引脚输出。第二组焊盘在与第一组焊盘大致相同的平面内并在封装核的外侧。第二组焊盘被配置成容纳芯片核外侧的电路。封装核的几何中心与IC封装的几何中心不同。 | ||
搜索关键词: | 集成 ic 封装 | ||
【主权项】:
一种集成电路(IC)封装,包括:封装核,所述封装核包括具有与产品系列中的芯片核兼容的引脚输出的第一组焊盘;以及第二组焊盘,所述第二组焊盘位于与所述第一组焊盘大致相同的平面内并在所述封装核的外侧并且被配置成容纳位于所述芯片核外侧的电路,其中所述封装核的几何中心与所述IC封装的几何中心不同。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技股份有限公司;,未经英飞凌科技股份有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410468125.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有穿过埋氧层的漏极侧接触件的半导体器件
- 下一篇:晶圆位置校准装置