[发明专利]一种光学系统像差补偿装置与方法有效
申请号: | 201410473404.2 | 申请日: | 2014-09-16 |
公开(公告)号: | CN104181780A | 公开(公告)日: | 2014-12-03 |
发明(设计)人: | 刘志祥;邢延文;吕保斌;徐富超 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;顾炜 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供一种光学系统像差补偿装置与方法,光源发出的光线均匀照明在投影物镜物面上,散射板和针孔安装在掩模台上,针孔位于投影物镜的物面,波像差传感器位于投影物镜像面,安装在硅片台上,同时投影物镜内部氮气进行分段密封,在每个密封段上安装有进气口流量控制器、出气口流量控制器、高精度气压计。本发明使用投影物镜内部分段控制的氮气气压作为补偿变量,当物镜像差发生变化时,采用算法计算各段气压的调整量,并通过计算机调节氮气流量,精确控制各密封段内的气压实现了投影物镜像差的动态补偿。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学系统 补偿 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种光学系统像差补偿装置,其特征在于:从光线入射方向依次包括光源(101)、照明系统(102)、二次光源模块(103)、投影物镜(104)、波像差测量模块(105)、计算机(106);其中二次光源模块(103)包括散射板(201)、掩模板(202)和掩模台(203);其中投影物镜(104)它包括第一段光组(211)、第二段光组(212)、第三段光组(213),各光组进行分段密封,同时在投影物镜上还安装有第一段进气口流量控制器(221)、第一段出气口流量控制器(222)、第二段进气口流量控制器(223)、第二段出气口流量控制器(224)、第三段进气口流量控制器(225)、第三段出气口流量控制器(226),第一段气压计(231)、第二段气压计(232)、第三段气压计(233);其中波像差测量模块(105)包括硅片台(241)、波像差传感器(242);光源(101)发出的激光通过传输光路导入照明系统(102),经照明系统(102)的光路折转、扩束和光学变换后,在投影物镜(104)的物面即掩模面上形成均匀照明光;二次光源模块(103)安装在投影物镜(104)的物面一侧,经过二次光源模块(103)出射的测试光通过被测投影物镜(104)后,测试光的波前会携带着投影物镜(104)的波像差信息;投影物镜(104)的第一段光组(211)上头部和尾部分别安装有第一段进气口流量控制器(221)、第一段出气口流量控制器(222),控制第一段光组(211)中氮气的流速和气压,第一段光组(211)还安装有第一段气压计(231),用于精确测量第一段光组(211)内部的氮气气压,第二段光组(212)上头部和尾部分别安装有第二段进气口流量控制器(223)、第二段出气口流量控制器(224),控制第二段光组(212)中氮气的流速和气压,第二段光组(212)还安装有第二段气压计(232),用于精确测量第二段光组(212)内部的氮气气压,第三段光组(213)上头部和尾部分别安装有第三段进气口流量控制器(225)、第三段出气口流量控制器(226),控制第三段光组(213)中氮气的流速和气压,第三段光组(213)还安装有第三段气压计(233),用于精确测量第三段光组(213)内部的氮气气压;波像差测量模块(105)位于投影物镜(104)像面一侧,上面为硅片台(241),波像差传感器(242)安装在硅片台(241)上,用于对被测物镜波像差进行动态测量,移动硅片台(241)进行视场选择;计算机(106)用于测量过程中控制,测量数据存储,计算各段气压补偿量。
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