[发明专利]DTX检测方法、装置及基站在审
| 申请号： | 201410475510.4 | 申请日： | 2014-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN105491591A | 公开（公告）日： | 2016-04-13 |
| 发明（设计）人： | 魏继东 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/02 | 分类号： | H04W24/02;H04L1/18 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 薛祥辉;李发兵 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种DTX检测方法、装置及基站，从上行终端发送的反馈信号中提取用于进行DTX检测的信息比特，将提取的信息比特进行分极性处理；进而根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；将该DTX检测值与预设的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定上行终端是否处于DTX状态。也即，本发明提供的方案利用信息比特的极性特点完成DTX检测，可大大降低误检和漏检的可能性，提升DTX检测的精度，尤其是在小TBSize条件下。 | ||
| 搜索关键词： | dtx 检测 方法 装置 基站 | ||
【主权项】：
一种DTX检测方法,其特征在于，包括：接收上行终端发送的反馈信号；提取该反馈信号中用于进行DTX检测的信息比特；将提取的信息比特进行分极性处理；根据不同极性的信息比特得到DTX检测值；将所述DTX检测值与预设的DTX检测阈值进行比较，根据比较结果确定所述上行终端是否处于DTX状态。
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