[发明专利]一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法在审

专利信息
申请号: 201410483982.4 申请日: 2014-09-22
公开(公告)号: CN104297585A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 于庆奎;罗磊;张洪伟;孙毅;祝名;唐民 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 李江
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,步骤如下:步骤1,航天器内部辐射环境计算,采用空间环境效应计算软件,输入地球轨道航天器的轨道参数值,空间辐射环境模型,航天器屏蔽厚度,计算航天器内部质子微分能谱;步骤2,选择质子,计算出的轨道中航天器内部质子微分谱,由于质子随能量不是均匀分布的,存在质子注量峰值,选择注量峰值对应的能量质子作为评估试验用质子;步骤3,试验用质子注量,计算试验用质子注量;步骤4,辐照试验,用计算确定的能量的质子,辐照器件到规定的注量。辐照后,按产品规范要求进行电测试。
搜索关键词: 一种 高能 质子 进行 空间 位移 损伤 效应 评估 试验 方法
【主权项】:
一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于该方法包括如下步骤:步骤1,航天器内部辐射环境计算,采用空间环境效应计算软件,输入地球轨道航天器的轨道参数值,空间辐射环境模型,航天器屏蔽厚度,计算航天器内部质子微分能谱;步骤2,选择质子,计算出的轨道中航天器内部质子微分谱,由于质子随能量不是均匀分布的,存在质子注量峰值,选择注量峰值对应的能量质子作为评估试验用质子;步骤3,试验用质子注量,计算试验用质子注量,式中为试验用质子能量的注量,为能量为的质子非电离能损,为空间质子微分能谱,分别为空间质子最大能量和最小能量,为能量为的质子非电离能损;步骤4,辐照试验,用所述步骤2计算确定的所述能量质子,辐照器件到根据所述步骤3所述质子注量,辐照后,按产品规范要求进行电测试。
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