[发明专利]密码芯片功耗分析装置、方法及功耗分析防护装置、方法在审

专利信息
申请号: 201410484427.3 申请日: 2014-09-20
公开(公告)号: CN104301088A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 王建新;张磊;赵成 申请(专利权)人: 北京电子科技学院
主分类号: H04L9/00 分类号: H04L9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100070*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及信息安全技术领域,尤其涉及一种密码芯片功耗分析装置、方法及功耗分析防护装置、方法,该装置包括:密码芯片、采样电阻、稳压电源、示波器及PC机;密码芯片与稳压电源及PC机电连接,用于进行加密操作;密加密操作包括在密码算法程序中加入触发信号代码;采样电阻的两端分别与密码芯片及稳压电源电连接;示波器至少包括两个通道,其中一个通道用于获取密码芯片的触发信号,另一通道用于获取密码芯片在进行加密操作时采样电阻两端的电压波形;PC机用于根据获取的电压波形进行功耗分析。通过该装置,可进行不同算法的功耗分析,并将分析结果数据作为制定相应的防御攻击对策的基础数据,大大提高了防御攻击对策的有效性。
搜索关键词: 密码 芯片 功耗 分析 装置 方法 防护
【主权项】:
一种密码芯片功耗分析装置,其特征在于,包括:密码芯片、采样电阻、稳压电源、示波器及PC机;所述密码芯片与所述稳压电源及PC机电连接,用于进行加密操作;其中,所述密加密操作包括:在密码算法程序中加入用于表示所述密码芯片工作状态的触发信号代码;所述采样电阻的两端分别与所述密码芯片及稳压电源电连接;所述示波器至少包括两个通道,其中一个通道用于获取所述密码芯片的触发信号,另一通道用于获取所述密码芯片在进行加密操作时所述采样电阻两端的电压波形;所述PC机用于根据所述获取的电压波形进行功耗分析。
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