[发明专利]通过激光跟踪仪对维度数据的自动测量无效

专利信息
申请号: 201410484508.3 申请日: 2012-03-14
公开(公告)号: CN104251696A 公开(公告)日: 2014-12-31
发明(设计)人: 肯尼斯·斯特菲;尼尔斯·P·斯特芬森;罗伯特·E·布里奇斯 申请(专利权)人: 法罗技术股份有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00;G01B11/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王萍;韩炜
地址: 美国佛*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 通过具有回射器目标和激光跟踪仪的系统进行测量包括存储用于三个目标以及至少一个附加点的名义坐标的列表;在跟踪仪的感光阵列上捕捉通过光束发射并反射离开三个目标的一部分光线;根据反射离开三个目标的光线,获得跟踪仪相机的感光阵列上的光点位置;确定跟踪仪感光阵列上的三个光点位置与三个目标的名义坐标之间的对应关系;至少部分地基于第一光点位置和第一目标的名义坐标,将来自跟踪仪的光束引导到三个目标;通过跟踪仪测量三个目标的三维坐标;至少部分地基于测量的三个目标的三维坐标以及至少一个附加点的名义坐标,确定至少一个附加点的三维坐标。
搜索关键词: 通过 激光 跟踪 维度 数据 自动 测量
【主权项】:
一种用于通过系统进行测量的方法,所述方法包括步骤:提供包括回射器目标的集合以及激光跟踪仪的系统,所述回射器目标的集合包括被配置为置于物体上的至少两个回射器目标,所述至少两个回射器目标包括第一目标和第二目标,第一参考框架中的所述激光跟踪仪关于激光跟踪仪环境固定,所述激光跟踪仪具有第一倾角计、结构、第一光源、绝对距离计量仪、第一角度变换器、第二角度变换器、跟踪系统、第一相机、第二光源、处理器以及存储器,所述存储器可操作地耦接至所述处理器,所述第一倾角计被配置为测量所述第一参考架相对于重力矢量的第一倾角和第二倾角,所述结构能够关于第一轴和第二轴旋转,所述第一光源产生与所述绝对距离计量仪协作的第一光束,所述第一角度变换器测量关于所述第一轴的第一旋转角度,所述第二角度变换器测量关于所述第二轴的第二旋转角度,所述跟踪系统被配置为将所述第一光束移动到所述回射器目标集合中的任意回射器目标的中心,所述第一相机包括第一透镜系统和第一感光阵列,所述第二光源提供第二光束,并且所述处理器被配置为操作所述激光跟踪仪;通过所述处理器将用于所述第一目标、所述第二目标以及至少一个附加点的名义坐标的列表存储到存储器中,所述名义坐标是第二参考框架中的三维坐标;通过第二倾角计测量所述第二参考框架相对于重力矢量的第三倾角和第四倾角;在所述第一感光阵列上捕捉反射离开所述第一目标和所述第二目标的第二光束的一部分;根据反射离开所述第一目标和所述第二目标的第二光束的一部分,通过处理器确定所述第一感光阵列上的第一光点位置和第二光点位置;通过处理器分别确定所述第一光点位置和所述第二光点位置与所述第一目标和所述第二目标的所存储的名义坐标之间的对应关系;至少部分地基于所存储的所述第一目标的名义坐标、所述第一光点位置、所述第一倾角、所述第二倾角、所述第三倾角以及所述第四倾角,通过所述处理器将所述第一光束引导到所述第一目标;利用所述绝对距离计量仪、所述第一角度变换器和所述第二角度变换器测量所述第一目标的三维坐标;至少部分地基于所存储的所述第二目标的名义坐标、所述第二光点位置、所述第一倾角、所述第二倾角、所述第三倾角以及所述第四倾角,通过所述处理器将所述第一光束引导到所述第二目标;利用所述绝对距离计量仪、所述第一角度变换器和所述第二角度变换器测量所述第二目标的三维坐标;通过所述处理器,将所述第一光束引导到多个附加点,所述多个附加点包括所述至少一个附加点,所述多个附加点指示操作者要采取的动作;至少部分地基于测量的所述第一目标的三维坐标、测量的所述第二目标的三维坐标、所存储的所述至少一个附加点的名义坐标、所述第一倾角、所述第二倾角、所述第三倾角以及所述第四倾角,通过处理器确定所述第一参考框架中所述至少一个附加点的三维坐标;以及通过所述处理器将确定的所述至少一个附加点的三维坐标存储到所述处理器中。
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