[发明专利]宇航元器件地面与在轨寿命结合性试验测试方法有效

专利信息
申请号: 201410484710.6 申请日: 2014-09-22
公开(公告)号: CN104297586B 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 韩晓东;高媛;王文炎;冯亚林;张洪伟 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司37205 代理人: 李江
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种功率器件的地面与在轨寿命结合性试验评估方法,其特征在于包括如下步骤,进行地面加速寿命试验,确定功率器件的加速试验的加速因子,选取GaAs微波功率器件,确定结温,搭建加速寿命试验平台,设定测试时间、测试参数和测试条件,在不同加速因子条件下同时地面加速寿命试验,采用威布尔图估法进行数据处理,外推寿命,进行在轨试验,在轨试验样品选定,装机飞行,在轨监测,实时监测上述在轨试验样品的直流参数和微波参数变化,在时间轴上观察GaAs微波功率器件参数变化趋势和变化量;根据参数改变来预测GaAs微波功率器件的参数退化,外推寿命,预计器件寿命水平。
搜索关键词: 宇航 元器件 地面 寿命 结合 试验 测试 方法
【主权项】:
一种功率器件的地面与在轨寿命结合性试验测试方法,其特征在于包括如下几个步骤,步骤1,进行地面加速寿命试验,其包括如下步骤:步骤1.1,确定功率器件的加速试验的加速因子;加速因子是加速器件寿命损耗的因素,对于功率器件,通过提高寿命试验的加速因子确保器件能够达到“浴盆曲线”的最后阶段从而进入损耗期;“浴盆曲线”是指包括元器件在内一般产品的失效率随寿命周期而变化的曲线,其具有早期失效期、可用寿命期、损耗期三个阶段;步骤1.1.1,选取GaAs微波功率器件;步骤1.1.2,确定结温;对于GaAs微波功率器件其结温根据沟道热阻值和功耗计算;步骤1.2,搭建加速寿命试验平台,设定测试时间、测试参数和测试条件;步骤1.3,在不同加速因子条件下同时进行地面加速寿命试验;试验在230℃、250℃和270℃的三个试验结温下开展,每个试验结温有8只样品,直至超过30%的样品失效终止试验,若失效数未达到总数的30%而经数据处理确认产品可靠性已达到指标要求,则可终止该试验;步骤1.4,采用威布尔图估法进行数据处理;步骤1.5,外推寿命;步骤2,进行在轨试验,其包括如下步骤:步骤2.1,在轨试验样品选定,当上述地面加速寿命试验的最高试验结温下有一只GaAs微波功率器件失效时,则判断整体样本进入“浴盆曲线”的最后阶段,选取最低试验结温下一只未失效的GaAs微波功率器件作为在轨试验样品;步骤2.2,装机飞行,将上述在轨试验样品装机进行在轨飞行,其他试验样品继续地面加速寿命试验;步骤2.3,在轨监测,实时监测上述在轨试验样品的直流参数和微波参数变化,在时间轴上观察GaAs微波功率器件参数变化趋势和变化量;根据参数改变来预测GaAs微波功率器件的参数退化;步骤2.4,外推寿命,根据在轨试验样品的在轨试验情况,借用地面加速寿命试验得到激活能,外推GaAs微波功率器件在结温为110℃的GaAs微波功率器件的寿命,即为所述在轨试验的器件的外推寿命;步骤3,预计器件寿命水平,将步骤1中的所述地面加速寿命试验的器件的外推寿命与步骤2得到的所述在轨试验的器件的外推寿命比较,共同测试预计器件寿命水平。
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