[发明专利]电路装置和用于实现用于交叉校验码的校验位压缩的方法

摘要

一种电路装置和用于实现用于交叉校验码的校验位压缩的方法。本发明提出一种用于确定用于k个数据位u1，...，uk的m个校验位c1，...，cm的电路装置(1)。其中，电路装置(1)包括第一子电路(19)和第二子电路(110)。第一子电路(19)具有k个用于输入k个数据位u＝u1，...，uk的二进制输入端和M个用于输出M个由数据位确定的二进制中间值z1，...，zM的二进制输出端。第二子电路(110)构成为用于将中间值z1，...，zM转换为校验位c1，...，cm。

主权项

1.一种用于确定用于k个数据位u1，...，uk的m个校验位c1，...，cm的电路装置(1；2；3；4；5)，其中所述电路装置(1；2；3；4；5)包括：第一子电路(19；29；39；41)，具有k个用于输入所述k个数据位(u＝u1，...，uk)的二进制输入端和M个用于输出M个根据所述数据位确定的二进制中间值(z1＝z1(u1，...，uk)，...，zM＝zM(u1，...，uk))的二进制输出端；以及第二子电路(110；210；310；42)，用于将所述中间值z1，...，zM转换为所述校验位c1，...，cm，其中m＜M和M＜k，其中所述第一子电路(19；29；39；41)被构造为，根据所述数据位如此确定所述中间值，以使得为每个待校正的数据位u_j产生可逆的清楚确定的中间值对其中，如果所述数据位u₁，...，u_k中仅仅有一个数据位改变到其否定值，那么所述中间值对的变化到显示第j个数据位u_j改变为其中所述第二子电路(110；210；310；42)被如此构造，以使得所述第二子电路将所述中间值如此转变为所述校验位，从而配置给根据所述数据位u1，...，uk确定的中间值的校验位与配置给根据待校正的数据位的相应的一个位中的转化的数据位确定的中间值的校验位成对地不同，其中m＜M适用。