[发明专利]过零电压检测电路及方法有效
申请号: | 201410488569.7 | 申请日: | 2014-09-22 |
公开(公告)号: | CN105510690B | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
发明(设计)人: | 李立民;邵超 | 申请(专利权)人: | 登丰微电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R19/175 | 分类号: | G01R19/175 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国,田景宜 |
地址: | 中国台湾新北*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种过零电压检测电路及方法具有一比较器、一第一晶体管以及一第二晶体管。第一晶体管具有第一基极、第一集极以及第一射极,第一基极和第一集极耦接在一起,第一射极接收相电压,第一集极提供第一电压给比较器的第一输入端。第二晶体管具有第二基极、第二集极以及第二射极,第二基极耦接第一基极,第二基极和第二集极耦接在一起,第二射极接收一零电压,第二集极提供一第二电压给比较器的第二输入端。比较器根据第一电压以及第二电压产生一过零电压信号。 | ||
搜索关键词: | 电压 检测 电路 方法 | ||
【主权项】:
一种过零电压检测电路,用于检测一电压转换器的一相电压,其特征在于,包含:一比较器,具有一第一输入端以及一第二输入端;一第一晶体管,具有一第一基极、一第一集极以及一第一射极,其中该第一基极耦接该第一集极,该第一射极接收该相电压,该第一集极提供一第一电压给该第一输入端;以及一第二晶体管,具有一第二基极、一第二集极以及一第二射极,其中该第二基极耦接该第一基极,该第二基极耦接该第二集极,该第二射极接收一零电压,该第二集极提供一第二电压给该第二输入端;其中,该比较器根据该第一电压以及该第二电压产生一过零电压信号。
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