[发明专利]透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法在审

专利信息
申请号: 201410488668.5 申请日: 2014-09-23
公开(公告)号: CN104792697A 公开(公告)日: 2015-07-22
发明(设计)人: 郑仲翔;陈敬修;胡恩德 申请(专利权)人: 中央研究院
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵蓉民
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种透镜色差式光谱测量装置及光谱测量方法。一种光谱测量装置(1),其包括光吸收系统(2)及像散检测系统(3),其中该光吸收系统(2)可接收由光源(5)所发出的具有不同波长的光线,并将该光线依据其不同的波长聚焦于不同焦点位置,通过光吸收系统(2)的该光线进一步被导入该像散检测系统(3)以进行对该光线的光谱测量。
搜索关键词: 透镜 色差 光谱 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种光谱测量装置(1),其包括光吸收系统(2),其包括:针孔(21),其容许从待测光源(5)所发射出的具有不同波长的光线通过;及色差聚焦透镜(23),其可将所述针孔(21)所汇集的所述光线依据不同波长而分别聚焦于不同的位置;像散检测系统(3),其包括:聚焦透镜(31);导光透镜组(33);像散透镜(35),其具有不同的纵向及横向放大曲率;及光检测器(37);其中,所述聚焦透镜(31)接收已通过所述色差聚焦透镜(23)聚焦的所述光线,而所述导光透镜组(33)将所述聚焦透镜(31)所接收的所述光线导向所述像散透镜(35),所述光线经导向通过所述像散透镜(35)后进而被所述光检测器(37)所检测。
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