[发明专利]一种基于参数化IP测试用例集合的芯片自动化验证方法

摘要

本发明公开了一种基于参数化IP测试用例集合的芯片自动化验证方法，采用传统验证方法加入IP测试用例的测试激励来实现，步骤如下设计构成芯片的每个IP的测试用例集合；对构成芯片的每个IP的参数进行配置；根据IP在芯片设计时的参数定义配置相应的测试用例集合；基于配置后的测试用例集合对芯片中每个IP进行测试，以验证设计的正确性。本发明实现简单并且大幅减少了针对同一IP重新编写测试用例的开销，提升了基于IP构建的芯片验证的效率。

主权项

一种基于参数化IP测试用例集合的芯片自动化验证方法，所述芯片由多个IP构成，其特征在于步骤如下：步骤一、为构成芯片的每个IP设计测试用例集合，所述每个IP的测试用例集合覆盖对应IP的所有测试功能，且其中每个测试用例的输入输出均以对应IP的参数表示；步骤二、对构成芯片的每个IP的参数进行配置；步骤三、利用步骤二中每个IP的参数配置值为对应IP的测试用例集合中的相应参数赋值；步骤四、利用每个IP的测试用例集合对芯片中对应的IP进行测试，直到完成芯片中所有IP的测试；如果所有的测试用例均通过则证明该设计符合需求，如果存在未能通过的测试用例，则定位对应的IP进行问题分析；对芯片中对应的IP进行测试的方式为：通过直接给对应IP的端口赋值或通过总线方式将测试激励输入到对应的IP上，将该IP的输出与该IP测试用例集合中相应的正确结果进行比对，得到该IP的测试结果。