[发明专利]一种IGBT动态性能测试装置及其运行方法

摘要

本发明为一种IGBT动态性能测试装置，其组成包括试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统，其中，IGBT过温保护系统与IGBT驱动电路相连；试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统和示波器各自独立；测试时IGBT测试模块分别与试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统相连。本发明的IGBT动态性能测试装置，能够对IGBT模块铜底板温度以及内部发热芯片的结温同时且自动地进行采集，进而能对模块热阻参数进行提取；并能够对IGBT模块工作频率进行实时调节。

主权项

一种IGBT动态性能测试装置，其特征为其组成包括试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统，其中，IGBT过温保护系统与IGBT驱动电路相连；试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统和示波器各自独立；测试时IGBT模块分别与试验电流产生电路、第一温度采集存储系统、第二温度采集存储系统、示波器、IGBT驱动电路、IGBT过温保护系统相连；所述的试验电流产生电路，其组成包括直流稳压源、多路循环时间继电器和负载电阻，其连接方式是：多个负载电阻的一端分别与多路循环时间继电器相连，另一端与直流稳压电源的一端相连，多路循环时间继电器的另一端与直流稳压电源的另一端相连，用于实现功率强度循环变化；所述的第一温度采集存储系统，其组成包括第一温度传感器、温度信号采集模块、温度信号传输模块和第一计算机组成，其连接方式是：第一温度传感器、温度信号采集模块、温度信号传输模块和第一计算机依次相连，用于测量IGBT模块铜底板温度；所述的第二温度采集存储系统，其组成包括光纤传感器、温度信号解调器和第二计算机组成，其连接方式是：光纤传感器、温度信号解调器和第二计算机依次相连，用于测量IGBT内部发热芯片温度；所述的IGBT驱动电路，主要包括信号发生器、光耦信号放大器、驱动器、不平衡电路、稳压电路和直流电源，其连接方式是：信号发生器、光耦信号放大器、驱动器、不平衡电路和稳压电路依次相连；直流电源包括第一直流电源和第二直流电源，第一直流电源和第二直流电源分别与光耦信号放大器和驱动器相连接；驱动器与不平衡电路相连；所述的IGBT过温保护系统，其组成包括第二温度传感器、温控器、两个散热风扇，其连接方式是：第二温度传感器与温控器相连，两个并行工作的散热风扇与温控器相连；该测试装置能够获得功率循环强度与温度之间的相关性。