[发明专利]键槽基准块以及外圆单、双键槽对称度检测仪

摘要

本发明公开了一种键槽基准块，属于一种专用的检测量具，用于解决现有外圆键槽对称度检测困难、可靠性差的问题。其中键槽基准块具有配合被测零件键槽大小的凸型键以及匹配被测零件外圆的定位弧，利用该凸型键可以检测外圆单键槽的加工尺寸是否合理。所述键槽基准块配上表座、表杆组件、表卡及百分表等附件能精准地检测外圆单、双键槽的对称度和垂直度，所述键槽基准块与半环规、百分表等附件组合能精确地检测外圆双键槽对称度误差。该键槽基准块重量轻，在加工设备或生产现场随时可以进行检测，节省了生产成本，减轻了劳动强度，大大简化了检测过程，生产效率显著提高，同时判断结果直观可靠，特别适应批量零件的检测。

主权项

一种键槽基准块，其特征在于，包括一个“口”字型键槽定位块，所述键槽定位块左右两侧分别向下延伸出中心对称分布的定位侧板，该定位侧板形成匹配被测零件键槽大小的凸型键，且定位侧板前侧面与后侧面的距离不超过键槽定位块前内壁与后内壁之间的距离，所述键槽定位块前后下端面形成对称且匹配被测零件外圆的定位弧，所述定位侧板前侧面与后侧面的距离不超过被测零件键槽设计宽度的下限值，所述两块定位侧板之间的距离不超过被测零件键槽设计长度的下限值，所述键槽定位块左右两侧设有若干对称分布的减重孔。