[发明专利]一种编程监控的方法有效
| 申请号： | 201410505287.3 | 申请日： | 2014-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN105513637B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 胡洪;张赛;张建军;付永庆 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/10 | 分类号： | G11C16/10;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬;邓猛烈 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种编程监控的方法，该编程监控方法包括：获取闪存阵列中第一存储单元的编程性能参数；当所述第一存储单元的编程性能参数超过预设阈值时，对目标存储单元的编程配置参数进行调节，所述目标存储单元包括所述第一存储单元和/或所述第一存储单元所在的闪存区块中的其余存储单元，所述闪存阵列包括至少一个闪存区块；根据调节后的编程配置参数，对所述目标存储单元进行编程控制。本发明通过调节存储单元的编程配置参数，使存储芯片保持高性能的编程能力，具有在存储芯片编程效率衰退时及时调整、缩短编程时间、提高编程效率的优势，以及可多次调整编程配置参数，达到延长存储芯片使用寿命、优化编程性能的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 存储单元 编程配置 目标存储单元 编程 编程性能 存储芯片 编程效率 闪存区块 闪存阵列 监控 编程控制 编程能力 使用寿命 阈值时 预设 衰退 优化 | ||
【主权项】：
1.一种编程监控的方法，其特征在于，包括：获取闪存阵列中第一存储单元的编程性能参数；其中，所述编程性能参数包括编程时间和/或编程次数；当所述第一存储单元的编程性能参数超过预设阈值时，对目标存储单元的编程配置参数进行调节，所述目标存储单元包括所述第一存储单元和/或所述第一存储单元所在的闪存区块中的其余存储单元，所述闪存阵列包括至少一个闪存区块；根据调节后的编程配置参数，对所述目标存储单元进行编程控制；所述对目标存储单元的编程配置参数进行调节具体包括以下至少一种：当所述目标存储单元的编程并行度小于最大编程并行度时，增加所述目标存储单元的编程并行度；当所述目标存储单元的编程加压时间小于最长编程加压时间时，延长所述目标存储单元的编程加压时间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京兆易创新科技股份有限公司，未经北京兆易创新科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410505287.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于三维物体打印期间的测试图案形成的系统和方法
- 下一篇：护鞘摆锯片
