[发明专利]鳍式场效应晶体管及其形成方法有效
申请号: | 201410505413.5 | 申请日: | 2014-09-26 |
公开(公告)号: | CN105514162B | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 张海洋 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/10;H01L29/04;H01L29/24;H01L21/336 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 应战;骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种鳍式场效应晶体管及其形成方法,所述鳍式场效应晶体管的形成方法包括:提供衬底,所述衬底表面具有鳍部,所述鳍部表面的材料为晶态材料;在所述衬底表面形成隔离层,所述隔离层的表面低于鳍部顶部,且所述隔离层覆盖部分鳍部的侧壁,所述隔离层为非晶态材料;在所述隔离层表面和鳍部的侧壁和顶部表面形成沟道层,所述沟道层的材料为拓扑绝缘材料;在所述沟道层表面形成栅介质层;在所述栅介质层表面形成横跨所述鳍部的栅极层。能够防止所形成的鳍式场效应晶体管产生短沟道效应、以及漏电流,提高鳍式场效应晶体管的性能。 | ||
搜索关键词: | 场效应 晶体管 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种鳍式场效应晶体管的形成方法,其特征在于,提供衬底,所述衬底表面具有鳍部,所述鳍部表面的材料为晶态材料;在所述衬底表面形成隔离层,所述隔离层的表面低于鳍部顶部,且所述隔离层覆盖部分鳍部的侧壁,所述隔离层的材料为非晶态材料;在所述隔离层表面和鳍部的侧壁和顶部表面形成沟道层,所述沟道层的材料为拓扑绝缘材料;在所述沟道层表面形成栅介质层;在所述栅介质层表面形成横跨所述鳍部的栅极层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410505413.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:MOS晶体管及其制备方法
- 下一篇:功率金属氧化物半导体场效应晶体管
- 同类专利
- 专利分类