[发明专利]一种减少相位测量轮廓术中多路径效应影响的方法有效

专利信息
申请号: 201410507715.6 申请日: 2014-09-29
公开(公告)号: CN104215201A 公开(公告)日: 2014-12-17
发明(设计)人: 刘凯;杨洋;郑晓军;吴炜;杨晓敏 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610065 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及如何减小在使用相位测量轮廓术进行三维测量时多路径效应引起的相位误差。使用传统相位测量轮廓术(Phase measuring profilometry,PMP)系统即可,用传统PMP算法得到亮度调制参数,对其进行差异计算后得到差异分布情况,从差异分布情况中确定受多路径效应影响严重的部分,然后根据其他部分的相位值估算受影响严重部分的相位值,最后使用校正后的相位值计算三维数据。本发明在传统PMP算法中进行了改进,避免了引入外来模型可能导致的不确定性误差和额外影响,并且方法直接有效,能全面的减小各方向的相位误差,提高了三维测量的准确度。
搜索关键词: 一种 减少 相位 测量 轮廓 术中多 路径 效应 影响 方法
【主权项】:
一种减少相位测量轮廓术中多路径效应影响的方法,其特征在于首先对得到的亮度调制参数进行差异计算,其次根据亮度调制的差异情况对求得的相位进行区域筛选,滤除受到多路径效应影响强烈的区域,然后根据周围像素点的相位值估算滤除区域的相位情况,再由估算后得到的相位进行三维重建。
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