[发明专利]一种荧光粉抗衰减特性检测方法在审
| 申请号： | 201410508555.7 | 申请日： | 2014-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN104297193A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 薛敏华 | 申请（专利权）人： | 彩虹集团电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/33 | 分类号： | G01N21/33 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人： | 韩畅 |
| 地址： | 712021*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种荧光粉抗衰减特性检测方法，将荧光粉进行加水混合粉浆化处理以后，通过加热干燥，分散过筛后，利用真空紫外光谱分析仪进行激发，根据其粉浆化前后亮度维持率的大小，定性判断荧光粉抗衰减特性的强弱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光粉 衰减 特性 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种荧光粉抗衰减特性检测方法，其特征在于，包括下述步骤：步骤一，搅拌混合分散：将待测荧光粉加入80～90摄氏度的纯水中，荧光粉的加入量为纯水质量的30～50％，搅拌均匀后，利用超声波进行分散，超声波功率200w，超声时间3～5分钟；步骤二，加热干燥：然后进行粉浆沉降，沉降时间为2～3小时，使荧光粉彻底沉降完全，界限清晰，倒掉粉浆上层的澄清液，进行粉块干燥，干燥温度100～120摄氏度，干燥时间8～12小时，使荧光粉干燥完全；步骤三，分散过筛：将干燥完全的荧光粉用120目筛网进行粉体过筛一遍，再利用240目筛网再过一遍筛，取样利用真空紫外光谱分析仪进行粉浆化前、后亮度维持率大小检测，根据亮度维持率大小，判断荧光粉抗衰减性能的强弱，如果亮度维持率大，则认为该荧光粉抗衰减能力强，反之，则弱。
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