[发明专利]一种对OFDM同步训练序列进行处理的方法及装置有效
申请号: | 201410511567.5 | 申请日: | 2014-09-29 |
公开(公告)号: | CN104333526B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 杨帆;李洋;李玉柏;邵怀宗;王文钦 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H04L27/26 | 分类号: | H04L27/26 |
代理公司: | 成都正华专利代理事务所(普通合伙)51229 | 代理人: | 李林合 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及一种对OFDM同步训练序列进行处理的方法及装置。该方法包括将OFDM同步训练序列进行多次循环移位得到多个循环移位序列;在每个循环移位序列之前添加循环前缀得到候选序列;计算候选序列的定时度量函数的平均斜率;以及将平均斜率最大的候选序列作为处理后的OFDM同步训练序列。 | ||
搜索关键词: | 一种 ofdm 同步 训练 序列 进行 处理 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种对OFDM同步训练序列进行处理的方法,其特征是,包括:将所述OFDM同步训练序列进行多次循环移位得到多个循环移位序列;在每个所述循环移位序列之前添加循环前缀得到候选序列;计算所述候选序列的定时度量函数的平均斜率;以及将所述平均斜率最大的候选序列作为处理后的OFDM同步训练序列;其中,所述计算所述候选序列的定时度量函数的平均斜率的步骤进一步包括:在所述候选序列之前和之后各添加多个零值得到无噪声序列;从所述无噪声序列中的第一个点开始,调整起始位置,依次截取长度等于所述OFDM子载波数的多个子序列;计算每个所述子序列的定时度量函数;计算所述定时度量函数中的点与理想定时位置所对应的定时度量函数点之间的斜率;以及计算所述斜率的平均值得到候选序列的定时度量函数的平均斜率。
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