[发明专利]一种半导体基片的预湿方法有效
申请号: | 201410512510.7 | 申请日: | 2014-09-29 |
公开(公告)号: | CN105448816B | 公开(公告)日: | 2020-04-24 |
发明(设计)人: | 金一诺;王坚;王晖 | 申请(专利权)人: | 盛美半导体设备(上海)股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及TSV制程中半导体基片的预湿工艺。本发明公开了一种半导体基片的预湿方法,基片通过预湿腔进行预湿润处理,包括如下步骤:步骤一,将待湿润的基片放置于预湿腔内;步骤二,对预湿腔进行抽真空,以达到真空状态;步骤三:在真空状态下,向预湿腔内通入可溶性气体,同时监控预湿腔内的气压变化;步骤四,当预湿腔内的气压达到一期望阈值范围时,向预湿腔内注入填充液;步骤五,可溶性气体溶解于填充液,填充液沾湿并浸润基片;步骤六,使预湿腔恢复至常压状态,完成预湿处理。采用该方法能够使填充液深入到基片表面的深孔底部,大幅度提高了预湿效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体基片的预湿方法,所述基片通过预湿腔进行预湿润处理,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:将待湿润的基片放置于预湿腔内;步骤二:对所述预湿腔进行抽真空,以达到真空状态;步骤三:在所述真空状态下,向所述预湿腔内通入可溶性气体,同时监控所述预湿腔内的气压变化;步骤四:当所述预湿腔内的气压达到一期望阈值区间时,向所述预湿腔内注入填充液;步骤五:所述可溶性气体溶解于所述填充液,所述填充液沾湿并浸润所述基片;步骤六:使所述预湿腔恢复至常压状态,完成所述预湿处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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