[发明专利]一种片状硅粒子整流二极管的生产方法有效
申请号: | 201410513677.5 | 申请日: | 2014-09-29 |
公开(公告)号: | CN104241122B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 欧金荣 | 申请(专利权)人: | 广安市嘉乐电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329 |
代理公司: | 北京鼎宏元正知识产权代理事务所(普通合伙)11458 | 代理人: | 李波,武媛 |
地址: | 638500 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种片状硅粒子整流二极管的生产方法,包括下述步骤步骤一选取N‑型111面芯片进行扩散工序制得PN结芯片;步骤二把所述PN结芯片制作成为片状GPP芯片;步骤三把所述片状GPP芯片封装制造成片状硅粒子整流二极管。本发明所述片状硅粒子整流二极管的生产方法不会产生尖端电场区域,从而不会产生尖峰电场使得芯片被击穿,从而对芯片起到了一定的保护作用,并提高了芯片的有效载流面积和耐受电流强度。 | ||
搜索关键词: | 一种 片状 粒子 整流二极管 生产 方法 | ||
【主权项】:
一种片状硅粒子整流二极管的生产方法,包括下述步骤:步骤一:选取N‑型111面芯片进行扩散工序制得PN结芯片;步骤二:把所述PN结芯片制作成为片状GPP芯片;步骤三:把所述片状GPP芯片封装制造成片状硅粒子整流二极管;其中,在所述步骤二中,对所述PN结芯片通过光刻工艺、BOE沟槽刻蚀、RCA清洗和玻璃钝化步骤后得到圆形GPP芯片,对所述圆形GPP芯片切割后得到所述片状GPP芯片(5);所述步骤三具体包括组焊步骤、涂覆保护胶步骤、一次固化步骤、去胶步骤、二次固化步骤和测试步骤。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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