[发明专利]材料放气对光学透过率影响分析试验系统有效
申请号: | 201410515653.3 | 申请日: | 2014-09-29 |
公开(公告)号: | CN104237142A | 公开(公告)日: | 2014-12-24 |
发明(设计)人: | 于钱;臧卫国;杨东升;院小雪;田东波;姜海富;周晶晶 | 申请(专利权)人: | 北京卫星环境工程研究所 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100094 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种材料放气组分沉积污染物对光学透过率影响的分析试验系统,包括真空环境单元、材料放气单元、污染沉积量测试单元及光学透过率取样分析单元。本发明的材料放气组分沉积污染物对光学透过率影响的分析试验系统,能够快速建立空间真空环境,针对各类非金属材料,开展不同放气温度环境、不同沉积温度环境及不同污染物量级污染物对光学表面透过率影响的测试分析。 | ||
搜索关键词: | 材料 放气 光学 透过 影响 分析 试验 系统 | ||
【主权项】:
材料放气组分沉积污染物对光学透过率影响的分析试验系统,包括真空环境单元、材料放气单元、污染沉积量测试单元及光学透过率取样分析单元,真空环境单元由用于提供真空环境的带抽气系统的真空罐体组成;材料放气单元包括材料放气盒、加热单元、温度测试单元(测温单元)、连接线缆及温控单元控制系统,用于实现不同的材料放气温度环境;材料放气盒设置在真空罐体内,材料放气盒外部包裹加热单元,材料放气盒内部设置测温单元,测温单元和加热单元通过连接线缆与真空罐体外的温控单元控制系统电连接,以根据测温单元测量的温度对加热单元进行控制来控制材料放气盒到试验温度;污染沉积量测试单元包括污染量测试传感器、连接线缆、污染量数据采集系统和温控平台,用于精确测量表面污染沉积量,控制分析的污染量级,光学透过率取样分析单元为光学取样试片,用于取样材料放气污染物,进行透过率损失测试分析,材料放气盒正对的真空罐体内部下方设置有温控平台,温控平台与低温冷却循环泵连接,通过低温冷却循环泵实现平台的温度控制;温控平台上表面设置污染量测试传感器和光学取样试片,污染量测试传感器通过污染量测试单元连接线缆与真空罐体外部的污染量数据采集系统连接,其中污染量测试传感器用于将沉积污染物质量信号转换为频率信号,实现沉积污染物质量传感;污染量数据采集系统用于将污染量测试传感器频率数据采集存储,实现污染量的测试。
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