[发明专利]一种仿真预测和实际生产相集成的闭环质量控制仿真方法在审

专利信息
申请号: 201410522205.6 申请日: 2014-09-30
公开(公告)号: CN104268350A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 王佩;李翌辉;苏晓毅;张镁 申请(专利权)人: 中国西电电气股份有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 蔡和平
地址: 710075*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于零件加工过程误差控制领域,涉及一种预测和实际生产相集成的闭环质量控制仿真方法。该方法的步骤为:1)进行零件加工过程多工序多误差源分析与表述;2)设计现场多工序多误差源数据一体化实时采集方法和装置;3)基于动态误差源耦合模型的综合误差预测仿真预测;4)基于动态误差仿真预测的质量预控制方法;5)依据质量监控情况对失控过程进行调整,实现闭环质量控制。本发明提出的方法在进行零件多工序加工过程质量控制时,突破了已有方法的思路束缚,先进行加工过程误差的预测,然后在误差预测的基础上进行质量预控制和过程调整。该方法能够将传统的事后质量控制转换为质量的事前预控制,是一种理想的质量控制方法。
搜索关键词: 一种 仿真 预测 实际 生产 集成 闭环 质量 控制 方法
【主权项】:
一种仿真预测和实际生产相集成的闭环质量控制仿真方法,其特征在于,包括以下步骤:1)将零件加工过程产生的误差源转换到微元坐标系下进行耦合,然后根据耦合后的误差,同时考虑实际生产状态对误差源的影响,建立预测模型;2)采集误差信息,将其作为预测模型的输入;3)将预测模型转换为动态SOV模型,建立与SOV模型对应的OSFE方程,得到独立同分布的偏差;4)根据独立同分布的偏差设计预测模型的控制图;5)建立线性调整模型和MGWMA控制器;6)根据MGWMA控制器求解控制器的协方差阵;7)使MGWMA控制图在初始误差源的基础上引入一个偏差,使控制图失控,然后调整误差源,直至该统计量小于该控制限。
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