[发明专利]一种大直径区熔硅单晶的去应力退火的方法在审
申请号: | 201410523160.4 | 申请日: | 2014-09-30 |
公开(公告)号: | CN104278328A | 公开(公告)日: | 2015-01-14 |
发明(设计)人: | 王彦君;王刚;张雪囡;乔柳;韩璐;由佰玲;李帅;邬丽丽 | 申请(专利权)人: | 天津市环欧半导体材料技术有限公司 |
主分类号: | C30B33/02 | 分类号: | C30B33/02;C30B29/06 |
代理公司: | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 | 代理人: | 杨慧玲 |
地址: | 300384 天津市滨海新区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提供一种大直径区熔硅单晶的去应力退火的方法,包括(1)腐蚀、冲洗、烘干:将硅单晶用硝酸和氢氟酸进行腐蚀,用去离子水冲洗后烘干;(2)浸泡:将硅单晶放入纯水:HCl:H2O2=8:1:1溶液中浸泡;再放入五氧化二磷溶液中浸泡;(3)晾干:自然晾干;(4)入炉:将步骤(3)得到的单晶硅放在石英舟中,入热处理炉;(5)通气:向炉内通入氮气;(6)退火。本发明的退火方法,能够有效去除大直径硅单晶在生长过程中形成的热应力,有效改善硅单晶在后道机械加工时出现的炸裂和崩边问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 直径 区熔硅单晶 应力 退火 方法 | ||
【主权项】:
一种大直径区熔硅单晶的去应力退火的方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)腐蚀、冲洗、烘干:将硅单晶用硝酸和氢氟酸进行腐蚀,用去离子水冲洗后烘干;(2)浸泡:将硅单晶放入纯水:HCl:H2O2=8:1:1溶液中浸泡;再放入五氧化二磷溶液中浸泡;(3)晾干:自然晾干;(4)入炉:将步骤(3)得到的单晶硅放在石英舟中,入热处理炉;(5)通气:向炉内通入氮气;(6)退火:退火的温度为750℃,恒温4h,缓升缓降温。
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