[发明专利]一种基于红外热像的低值绝缘子检测方法无效
| 申请号： | 201410528129.X | 申请日： | 2014-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN104267063A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 朱向前;李唐兵;姚建刚;况燕军 | 申请（专利权）人： | 国家电网公司;国网江西省电力科学研究院;湖南湖大华龙电气与信息技术有限公司;湖南大学 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 南昌市平凡知识产权代理事务所 36122 | 代理人： | 姚伯川 |
| 地址： | 100761 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于红外热像的低值绝缘子检测方法，该方法包括以下步骤：获取待检测瓷质绝缘子串红外热像图，经过图像处理后，提取各绝缘子片钢帽部位的灰度图像区域，形成灰度特征曲线。通过检测钢帽灰度曲线是否含有上升畸变点，可实现绝缘子低值缺陷的快速检测及缺陷绝缘子的快速定位。本发明提供的低值劣化绝缘子检测方法，实现简单，易于操作，弥补了目前常用检测方法劳动强度大、主观性强、易受作业人员技能影响等缺陷，为低值劣化绝缘子状态检测提供一种客观、便捷的技术方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 红外 低值 绝缘子 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于红外热像的低值绝缘子检测方法，其特征在于，所述方法通过获取交流瓷质绝缘子串红外热像图，并对图片进行技术处理；获得绝缘子串各绝缘子片的钢帽部分图像区域，并形成钢帽灰度特征曲线；检测钢帽特征灰度曲线是否含有极大值畸变点；所述方法的步骤为：（1）获取交流瓷质绝缘子串红外热像图；（2）将上述图片经过图像技术处理后，获得绝缘子串各绝缘子片的钢帽部分图像区域；（3）求取上述各图像区域的灰度值平均值，按照各图像区域对应的绝缘子位置，形成钢帽灰度特征曲线；（4）检测钢帽特征灰度曲线是否含有极大值畸变点，判断该串绝缘子是否含有低值缺陷绝缘子，并对低值绝缘子进行定位。
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